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    產(chǎn)品中心

    當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心檢測分析儀器測速儀BX-G103激光橢偏儀

    激光橢偏儀
    產(chǎn)品簡介:

    BX-G103系列是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀。 BX-G03系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準(zhǔn)確測量??捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。

    產(chǎn)品型號:BX-G103

    更新時間:2024-05-14

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    訪問量:1919

    服務(wù)熱線

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    產(chǎn)品介紹

    關(guān)鍵詞:

    激光測量儀   橢偏儀光源   橢偏儀   橢偏儀設(shè)備   激光測高儀精度

    G103.jpg

    產(chǎn)品用途激光橢偏儀

       BX-G103系列是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準(zhǔn)確測量??捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。

    儀器特點:

    測量方法:Delta測量范圍0-360o,無測量死角問題(即使在0o或180o附近時也具有極-高的準(zhǔn)確度),也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對結(jié)果的影響

    原子層量級的極-高靈敏度和準(zhǔn)確度:采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實現(xiàn)并保證了極-高的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性

    百毫秒量級的快速測量:在保證極-高精度和準(zhǔn)確度的同時,可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測量,可滿足快速多點檢測和批量檢測需求

    精準(zhǔn)方便的樣品對準(zhǔn):視頻式自準(zhǔn)直樣品方位精密對準(zhǔn)系統(tǒng),精度高、操作方便

    簡單方便的儀器操作:一鍵操作即可完成復(fù)雜的樣品測量和分析;按照質(zhì)控要求進行數(shù)據(jù)多種導(dǎo)出;豐富的模型庫和材料庫方便用戶的高級操作;管理員/操作員不同的模式,保證儀器安全

    技術(shù)參數(shù):

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